1。薄いセクション顕微鏡：
* 準備： 岩の薄いスライス（厚さ約30ミクロン）がガラスのスライドに取り付けられています。これにより、光が通過できます。
* 観察： 偏光フィルターを装備した岩石学的顕微鏡を使用して、薄いセクションを調べます。鉱物との光の相互作用により、独自の光学特性（色、切断、複屈折など）が明らかになり、識別が可能になります。
2。その他のテクニック：
* X線回折（XRD）： この手法は、鉱物構造内の原子の配置を分析し、正確な識別を提供します。
* 電子マイクロプローブ： この機器は、電子の集中梁を使用して、鉱物の元素組成を分析します。これは、小規模または複雑な鉱物を特定するのに特に役立ちます。
* 走査型電子顕微鏡（SEM）： SEMは、鉱物表面の高解像度画像を提供し、識別に役立つテクスチャやその他の特徴を明らかにします。
なぜ薄いセクション顕微鏡が最も一般的であるのか：
* 比較的手頃な価格： 他の方法と比較して、薄いセクション顕微鏡は、押し出し岩を分析するための費用対効果の高い方法です。
* 詳細情報： これにより、光学特性とテクスチャに基づいて多くの鉱物を識別できます。
* 広く利用可能： 大学、研究機関、地質調査機関は、岩石学的顕微鏡にアクセスできます。
概要： 岩の鉱物を識別するには、微視的な特徴と化学組成を分析できる特殊なツールが必要です。薄いセクション顕微鏡は、この目的のための最も一般的で汎用性の高い方法です。
