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原子力顕微鏡は、そのプローブスキャンとして何を使用しますか?

原子間力顕微鏡(AFM)は、A 鋭い先端を使用します スキャンのプローブとして。このヒントは、通常、シリコンや窒化シリコンなどの硬い材料で作られており、小型で柔軟なビームである片持ち式に取り付けられています。

これがそれがどのように機能するかの内訳です:

* ヒント: 先端は非常に鋭く、多くの場合、わずか数ナノメートルの曲率の半径があります。これにより、スキャンされている表面の個々の原子と相互作用することができます。

* カンチレバー: カンチレバーは、特定の周波数で振動する小さなビームです。先端は片持ちの端に取り付けられています。

* スキャン: AFMは、ラスターパターンで先端を移動することで表面をスキャンします。

* 相互作用: 先端が表面に出会うと、力(ファンデルワールスの力、静電力など)が発生します。

* 検出: これらの力により、カンチレバーが曲がったり偏向したりします。このたわみは、カンチレバーの背面からセンサーに反射されるレーザービームによって検出されます。

* 画像形成: センサーは、反射レーザービームの変化を検出し、表面の画像を作成するために使用されます。

原子レベルで表面を画像化するAFMの能力は、信じられないほど鋭い先端とカンチレバーと検出システムの感度によるものです。

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