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走査型電子顕微鏡がどのように機能するか

走査型電子顕微鏡(SEMS)は、電子の集中ビームを使用してサンプルの画像を作成します。電子ビームはサンプルの表面を横切ってスキャンされ、放出される二次電子が検出され、画像の作成に使用されます。結果の画像には高解像度があり、サンプルの表面特徴を非常に詳細に示すことができます。

SEMがどのように機能するか

SEMは、電子のビームをサンプルに集中させることにより機能します。電子ビームは、顕微鏡の上部にある電子ガンによって生成されます。その後、ビームは一連のレンズによって加速され、焦点を合わせます。次に、電子の焦点を合わせたビームをサンプルの表面全体にスキャンします。

電子ビームがサンプルをスキャンすると、サンプルの原子と相互作用します。この相互作用により、原子が二次電子を放出します。二次電子は、サンプルの表面から放出される低エネルギー電子です。放出される二次電子の数は、サンプル内の原子数の原子数に依存します。より高い原子数原子は、より低い原子数原子よりも多くの二次電子を放出します。

サンプルから放出される二次電子は、検出器によって検出されます。検出器は、顕微鏡の底近くにあります。検出器は、二次電子を電気信号に変換します。次に、電気信号を増幅し、サンプルの画像を作成するために使用されます。

SEMによって作成された画像は、サンプルの表面の2次元表現です。画像は、サンプルの表面の特徴を非常に詳細に示しています。 SEM画像の解像度は通常、1〜10ナノメートルです。

SEMSのアプリケーション

SEMは、さまざまなアプリケーションで使用されます。

* 材料科学: SEMは、材料の構造と組成を研究するために使用できます。

* 生物学: SEMは、細胞と組織の構造を研究するために使用できます。

* 地質学: SEMは、岩と鉱物の構造と組成を研究するために使用できます。

* 法医学: SEMは、刑事事件の証拠を調べるために使用できます。

* 考古学: SEMは、アーティファクトの構造と構成を研究するために使用できます。

SEMは、サンプルの表面特徴を研究するための強力なツールです。これらはさまざまなアプリケーションで使用されており、材料の構造と構成に関する貴重な情報を提供できます。

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