走査型電子顕微鏡(SEM)は、電子のビームを使用してサンプルの画像を作成する顕微鏡の一種です。 SEMは、オブジェクトを最大数千回拡大することができ、サンプルの表面の3次元画像を提供できます。
SEMは、サンプルの表面全体に電子のビームをスキャンすることで機能します。電子はサンプル内の原子と相互作用し、二次電子を放出します。二次電子が検出され、サンプルの画像を作成するために使用されます。
SEMは、さまざまなアプリケーションで使用されます。
*材料の表面の研究
*材料の微細構造を調べる
*材料の欠陥の識別
*材料の組成の分析
*イメージング生物学的サンプル
SEMは、材料の構造と構成に関する詳細な情報を取得するために使用できる強力なツールです。