天文学では、磁束式を使用して、天体オブジェクトの明るさを測定します。オブジェクトのフラックスは、単位表面積あたりの単位時間あたりのエネルギー量として定義されます。フラックスの式は次のとおりです。
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f =l /（4πd^2）
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どこ：
-Fは1平方メートルあたりワットのフラックスです（w/m²）
-Lは、ワットのオブジェクトの光度（W）です
-Dはメーター（m）のオブジェクトまでの距離です
フラックスフォーミュラは、星、惑星、銀河、その他の天体の明るさを測定するために使用できます。また、惑星の大気を研究し、外惑星を検出するためにも使用されます。
天体の明るさの測定
フラックス式は、オブジェクトのフラックスを標準星のフラックスと比較することにより、天体オブジェクトの明るさを測定するために使用できます。標準的な星は、明るさがよく知られている星です。その後、オブジェクトのフラックスは、標準星のフラックスにオブジェクトの明るさの標準星の明るさの比を掛けることで計算できます。
フラックスフォーミュラは、肉眼で見るにはかすかすぎるオブジェクトの明るさを測定するためにも使用できます。これらのオブジェクトは、光を収集および焦点を合わせることができる望遠鏡または他の機器を使用して検出できます。オブジェクトのフラックスは、機器によって収集される光の量を測定することで計算できます。
フラックス測定は天文学者にとって重要なツールです。なぜなら、天文学者は、天体の明るさを研究し、物理的特性についてさらに学ぶことができるからです。フラックス測定は、星の進化、惑星の形成、および銀河の構造を研究するために使用されてきました。
