その理由は次のとおりです。
* 高解像度： TEMは、ほとんどの材料の原子間の間隔よりも小さいAngstroms（0.1ナノメートル）の順序で解像度を達成できます。これにより、個々の原子の視覚化とその配置が可能になります。
* 電子ビーム相互作用： TEMは、電子の集中ビームを使用してサンプルと相互作用します。電子は薄いサンプルを貫通し、内部構造に関する情報を提供できます。
* イメージング技術： TEMは、原子構造のさまざまな側面を明らかにするために使用できる明るいフィールド、ダークフィールド、回折など、さまざまなイメージング技術を採用しています。
その他の手法：
TEMは原子配置を視覚化するための主要な選択肢ですが、他の技術は貴重な情報を提供することもできます。
* スキャントンネル顕微鏡（STM）： STMは、原子スケールで材料の表面を画像化できますが、表面の伝導に限定されます。
* 原子間顕微鏡（AFM）： AFMは表面の高解像度画像を提供できますが、内部構造のイメージングにはそれほど効果的ではありません。
* X線回折（XRD）： XRDは材料の結晶構造を決定できますが、原子の直接的な画像を提供しません。
要約すると、TEMは、物質内の原子と分子の適切に秩序だった配置を視覚化するための解像度、浸透深度、およびイメージング技術の最良の組み合わせを提供します。
