1。電子顕微鏡：
* 透過電子顕微鏡（TEM）： 電子は薄いサンプルを通過し、電子の散乱方法に基づいて画像を作成します。この手法は、機能を原子レベル（〜0.1 nm）まで解決できます。
* 走査型電子顕微鏡（SEM）： サンプルの表面全体に集中した電子ビームスキャン。電子とサンプルの相互作用は、その地形と組成に関する情報を提供します。 SEMの解像度は約1 nmです。
2。原子力顕微鏡（AFM）：
*カンチレバーに取り付けられた鋭い先端が、サンプルの表面を横切ってスキャンされます。先端は表面原子と相互作用し、カンチレバーのたわみが測定され、表面の3D画像が提供されます。 AFMはサブナノメートルの解像度を達成できます。
3。 X線回折（XRD）：
* X線は、結晶サンプルに向けられています。 X線の回折パターンを分析して、結晶内の原子の配置を決定し、原子間距離の計算を可能にします。 XRDは、結晶構造の材料を研究するために使用され、その解像度は通常、Angstrom範囲（1 Angstrom =0.1 nm）にあります。
4。光顕微鏡：
*他の方法ほど正確ではありませんが、光学顕微鏡を使用して、マイクロメートル範囲の距離を測定できます（1マイクロメートル=1000 nm）。この方法は、目に見える光を利用してサンプルを照らし、画像はレンズを使用して拡大されます。
5。干渉法：
*この手法は、光波の干渉を使用して距離を測定します。 2つの光ビーム間の位相差を測定することにより、2つのポイント間の距離を決定できます。干渉法は、ナノメートルの範囲で解像度を達成できます。
6。分光技術：
*特定の分光法を使用して、分子によって放出または吸収される光の波長に基づいて距離を測定できます。これを使用して、結合長およびその他の分子寸法を決定できます。
技術の選択は、測定されるオブジェクトのサイズ、目的の解像度、およびサンプルの性質に依存します。
