これが故障です：
* 波長： 電子は、可視光よりもはるかに短い波長を持ち、大幅に高い解像度を可能にします。この波長は、電子の運動量に反比例します。電子の運動量は、電圧を加速することで制御できます。
* 解像度： 解決能力、または2つの密接に間隔を置いたオブジェクトを区別する能力は、使用される放射の約半分の波長です。
* 実際の制限： 理論的には達成可能ですが、実際には絶対的な最大解像度を達成することは困難です。レンズの異常、標本の準備、機器の安定性などの要因はすべて、最終的な達成可能な解像度に影響します。
典型的な解決力：
* 透過電子顕微鏡（TEM）： 〜0.1 nm（sub-angstrom）
* 走査型電子顕微鏡（SEM）： 〜1 nm
キーポイント：
* より高い電子エネルギー（電圧）は、波長が短くなり、解像度が向上します。
* 電子顕微鏡は、光顕微鏡よりも大幅に高い分解能を提供します。
* 実際の解像度は、多くの場合、さまざまな要因による理論的な制限よりも低いことがよくあります。
これらの側面のいずれかの詳細をご希望の場合はお知らせください！
