braggの法則：
Braggの法則によれば、X線が結晶に入射すると、X線の波長と結晶内の原子平面間の間隔に依存する特定の角度で回折（散乱）します。この関係は、次の方程式で表されます。
nλ=2dsinθ
どこ：
* n 回折の順序を表す整数（1、2、3、...）です。
* λ X線の波長です。
* d クリスタルプレーン間の間隔です。
* θ 回折角です。
回折粉末法：
回折粉末法では、材料の微粉末サンプルが使用されます。粉末には、ランダムに配向した晶菌が含まれています。パウダーでX線が輝くと、微結晶はその方向に応じてさまざまな角度でX線を散乱させます。
行の説明：
* 建設的な干渉： 異なる結晶子から回折されたX線が建設的に干渉する（つまり、波が互いに補強する）場合、回折ピークが観察されます。この建設的な干渉は、2つの隣接する平面から回折されたX線の違いが、波長の積分倍である場合に発生します（Braggの法則で定義されています）。
* 角度と間隔： ピークが発生する角度は、ブラッグの法則に従って、結晶面（d）間の間隔に直接関連しています。
* 強度： ピークの強度は、その特定の間隔を持つ平面数に比例します。その間隔を持つ飛行機が増えると、より激しいピークが発生します。
* ユニークな指紋： 各材料には、原子のユニークな配置があるため、平面間のユニークなセット（D）があります。これにより、指紋のような一意の回折パターンが得られ、材料を識別するために使用できます。
概要：
本質的に、回折粉末法の線は、材料内の原子の平面間の特定の間隔のためにX線の建設的な干渉が発生する角度を表しています。各ラインは、クリスタルプレーンの一意のセットとその間隔に対応しているため、材料の結晶構造の指紋を提供します。
