電子顕微鏡には2つの主要なタイプがあります。
* 透過電子顕微鏡（TEM）： このタイプの顕微鏡は、電子のビームを使用して薄いサンプルを照らします。電子はサンプルを通過し、磁気レンズによって焦点を合わせて画面上に画像を作成します。 TEMは、細胞、材料、およびその他のオブジェクトの内部構造を研究するために使用されます。
* 走査型電子顕微鏡（SEM）： このタイプの顕微鏡では、電子の集中梁を使用してサンプルの表面をスキャンします。電子はサンプルと相互作用し、画像を作成するために使用される信号を生成します。 SEMは、地形、組成、結晶構造など、材料の表面特徴を研究するために使用されます。
TEMとSEMは、光学顕微鏡よりもはるかに高い解像度を提供し、科学者がナノスケールでオブジェクトを視覚化できるようにします。
