その理由は次のとおりです。
* 偏光： 岩石学的顕微鏡は、偏光を使用します。これにより、光学特性（複屈折、胸部、干渉の色など）に基づいて鉱物の識別が可能になります。
* 薄いセクション： 岩のサンプルは、光が通過するのに十分薄い岩のスライスである薄いセクションとして準備されています。
* 倍率： 岩石学的顕微鏡は高倍率を提供し、個々の穀物を詳細に見ることができます。
その他のツール：
岩石学的な顕微鏡が主要なツールですが、他のツールを組み合わせて使用できます。
* ハンドレンズ： 初期観測のための基本的なツールですが、詳細な分析には十分に強力ではありません。
* 走査型電子顕微鏡（SEM）： さらに高い倍率を提供し、穀物表面の詳細な分析を可能にします。
* X線回折（XRD）： 結晶構造に基づいて鉱物を識別するために使用されます。
ツールの選択は、特定の研究の質問と必要な詳細レベルに依存します。
