1。 X線回折（XRD）
* 原則： X線は結晶で輝き、散乱X線の回折パターンが分析されます。このパターンは、結晶内の原子の配置を明らかにします。
* 強度： ユニット細胞の寸法、原子位置、結合長など、結晶構造に関する詳細な情報を提供できる非常に強力な手法。
* 弱点： 高品質の結晶が必要であり、時間がかかり、複雑な構造を解釈するのが難しい場合があります。
2。中性子回折
* 原則： XRDに似ていますが、X線の代わりに中性子を使用します。中性子は原子核によって散乱され、XRDで検出が困難な光原子（たとえば、水素）の位置に関する情報を提供します。
* 強度： 水素の位置と磁気構造の研究に最適です。
* 弱点： 中性子源（原子炉または散発源）へのアクセスが必要であり、XRDよりも高価になる可能性があります。
3。電子回折
* 原則： 電子のビームを使用してサンプルを砲撃し、回折パターンを生成します。
* 強度： 非常に小さな結晶や薄膜でさえ使用でき、有機分子の研究に特に役立ちます。
* 弱点： 電子ビームからのサンプル損傷に敏感である可能性があり、XRDと同じレベルの詳細を常に提供するとは限りません。
4。透過型電子顕微鏡（TEM）
* 原則： 電子のビームを使用してサンプルを画像化します。生成された回折パターンを分析することにより、結晶構造を決定できます。
* 強度： 結晶構造の高解像度画像を提供し、欠陥やその他の欠陥を特定するために使用できます。
* 弱点： 非常に薄いサンプルが必要であり、原子位置を決定するためのXRDほど正確ではない場合があります。
5。スキャントンネル顕微鏡（STM）
* 原則： 非常に鋭いチップを使用して、材料の表面をスキャンします。先端と表面の間を流れる電流は、原子構造に敏感です。
* 強度： 結晶表面の原子規模の画像を提供し、表面欠陥と再構築を研究するために使用できます。
* 弱点： 導電性材料でのみ使用でき、結晶の表面の研究に限定されます。
6。原子力顕微鏡（AFM）
* 原則： 鋭いチップを使用して、STMと同様に材料の表面をスキャンします。ただし、AFMは、先端とサンプルの間の力を測定します。これは、表面の地形と原子構造を画像化するために使用できます。
* 強度： 導電性材料と非導電性材料の両方で使用でき、原子規模の画像を提供します。
* 弱点： 表面汚染に敏感である可能性があり、原子位置を決定するためのXRDほど正確ではない場合があります。
技術の選択は、研究されている特定の結晶、必要なレベルのレベル、および利用可能なリソースに依存します。多くの場合、科学者は複数の技術を組み合わせて、結晶構造の包括的な理解を得ます。
